XII Carnaval de la Fisica: APLICACIÓN DEL HAZ IÓNICO FOCALIZADO PARA LA OBSERVACIÓN DE MUESTRAS ODONTOLÓGICAS CON MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO

Esta es mi contribución al XII carnaval de la física, que en esta ocasión alberga el estupendo blog de la mula francis http://francisthemulenews.wordpress.com/ que recomiendo ampliamente, recientemente se celebró el Décimo Congreso Nacional de Microscopía en Morelia en Mexico, hubo muchas interesantes ponencias todas disponibles en http://www.amemi.org/memorias_2010. Una de ellas es la que comento a continuación.

APLICACIÓN DEL HAZ IÓNICO FOCALIZADO PARA LA OBSERVACIÓN DE MUESTRAS ODONTOLÓGICAS CON MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO

En odontología al igual que en diversas ramas de la medicina, el microscopio electrónico de barrido (MEB) es una herramienta muy útil para observar la morfología de las superficies y los efectos producidos en los diferentes tejidos. Sin embargo, procedimientos adicionales son requeridos para observar las interfaces existentes tanto a nivel dental, como aquellas formadas entre el órgano dentario y los materiales dentales. En este contexto, los cortes transversales realizados mecánicamente con bandas o discos de diamante a muy baja velocidad y con irrigación de agua es el procedimiento más utilizado y también el más reportado en la literatura relevante. Desafortunadamente, el corte mecánico puede producir efectos indeseables y micro-fracturas a nivel de la interface que se desea observar (figura1). 

Por otra parte, el sistema de haz iónico focalizado (HIF), además de ser comúnmente utilizado para realizar la técnica de seccionamiento transversal y analizar las fallas de los dispositivos semiconductores, también ha demostrado ser de utilidad en la preparación de las muestras biológicas La pulverización con el HIF es rutinariamente utilizada en aplicaciones de microscopía y se ha reportado que produce un corte preciso sin daño detectable en la muestra (menor a 10nm) La pulverización con el HIF ha mostrado muchas ventajas en la preparación de especímenes con tejidos mineralizados como la dentina y el esmalte, este procedimiento reduce significativamente el tiempo de preparación y permite posicionar las muestras para realizar los cortes con alta exactitud (figura 2). El uso del HIF elimina los daños artificiales producidos por cualquier tipo de seccionamiento mecánico, Rogelio Scougall  de la facultad de Odontología, CIEAO, UAEM, Toluca, Edo.de Méx., En un reciente trabajo ha descrito de manera clara y concisa las aplicaciones del HIF para la preparación de muestras biológicas de tipo dental previa a la observación con un MEB.

Sus resultados

En la figura 3 se observa el mecanismo de acción del HIF para la preparación de las muestras tanto al momento de realizar el corte, así como también los residuos producidos. Desde otra perspectiva, la figura 4A ilustra un espécimen a baja magnificación inmediatamente después de que el órgano dentario fue tratado con el HIF. Finalmente, en la figura 4B se muestra la imagen correspondiente de la interface diente-adhesivo a gran magnificación, la cual brinda resultados altamente satisfactorios que no pueden ser comparados con aquellos obtenidos mediante los métodos convencionales de seccionamiento mecánico, similares a aquellos utilizados en el espécimen de la figura 1.

Como parte de sus conclusiones comentan que el haz iónico focalizado es una herramienta muy efectiva que no produce daños artificiales durante su aplicación para la preparación de muestras biológicas de tipo odontológico, lo cual ofrece la gran ventaja de realizar una mejor observación de las interfaces dentales con microscopía electrónica de barrido.

Los autores agradecen a los señores Kouichi Kurosawa, Akinari Morikawa, Toru Kumazawa y Yukari Dan de los laboratorios de alta tecnología de la compañía Hitachi, por su valiosa ayuda para la realización de su estudio

Hasta aquí esta entrada y estaré publicando pronto más sobre algunas otras que me han llamado la atención.

Salu2 a tod@s y felicidades a Andrea Nochez que estuvo de cumpleaños hace unos días

Mr. Moon